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  • 手持式合金分析儀是基于X射線理論而誕生的
    2022-3-13 793
    手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù),可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素,同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素,而通過測量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。如此一來,XRF度普術(shù)就能測定物質(zhì)的元素構(gòu)成。手持式合金分析儀是基于X射線理論而誕生的,它主要用于軍工、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領(lǐng)域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場測定。是伴隨世界經(jīng)濟(jì)崛起的工業(yè)和軍事制造領(lǐng)域的快速成份鑒定工具。每一個(gè)原子都有自己固定數(shù)量的電子(負(fù)電微粒)運(yùn)行在核子周圍的軌道上。...

  • 光學(xué)輪廓儀是一款非常精密的檢測儀器
    2022-2-21 831
    光學(xué)輪廓儀是一款非常精密的檢測儀器,它可以檢測工件的粗糙度,并且數(shù)據(jù)十分。高精度輪廓儀是對物體的輪廓、二維尺寸、二維位移進(jìn)行測試與檢驗(yàn)的儀器,作為精密測量儀器在汽車制造和鐵路行業(yè)的應(yīng)用十分廣泛。光學(xué)輪廓儀通過對被測物進(jìn)行缺陷檢測,實(shí)現(xiàn)了被測物件的在線連續(xù)式缺陷檢測,及時(shí)的防止帶缺陷的軋材進(jìn)入下一生產(chǎn)環(huán)節(jié),提高了被測物的成品率和檢測效率。光學(xué)輪廓儀具備四只二維激光測量傳感器,每只二維激光傳感器負(fù)責(zé)檢測一個(gè)方位的輪廓情況,四只傳感器*可以滿足軋材的同一截面的輪廓檢測,這樣隨著被測...

  • 盤點(diǎn)光學(xué)膜厚測量儀的那些使用注意事項(xiàng)
    2022-1-26 927
    膜厚儀做為一種測量物體厚度的儀器,在很多的行業(yè)領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用,尤其是涂層測厚儀,擁有測量精度高,利用探頭接觸測量方式的優(yōu)點(diǎn)。光學(xué)膜厚測量儀是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)產(chǎn)生低能量的光子,俗稱為二次熒光,在通過計(jì)算二次熒光的能量來計(jì)算厚度值。光學(xué)膜厚測量儀的使用注意事項(xiàng):1.零點(diǎn)校準(zhǔn)在每次使用膜厚儀之前需要進(jìn)行光學(xué)校準(zhǔn),因?yàn)橹暗臏y量參數(shù)會(huì)影響該次對物體的測量,零點(diǎn)校準(zhǔn)可以消除前次測量有參數(shù)的影響,能夠降低測量的結(jié)果的誤差,使測量結(jié)果更加。2.基體厚度不宜過薄在使用...

  • XRF鍍層測厚儀的工作原理和影響測量因素
    2022-1-24 825
    XRF鍍層測厚儀主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。XRF鍍層測厚儀的測量工作原理:1、磁性測厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼鐵銀鎳。此種方法測量精度高(如:鐵等磁性材料)2、渦流測厚法:渦流測量原理是高頻交流信號(hào)在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場,測頭靠近導(dǎo)體時(shí),就在其中形成渦流。測頭離導(dǎo)電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。與磁感應(yīng)測厚法一樣,渦流測厚法也達(dá)到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程1...

  • XRF手持式合金分析儀的原理和主要特點(diǎn)有哪些?
    2021-12-24 850
    XRF手持式合金分析儀在金屬制造行業(yè)中,材料、半成品、成品的質(zhì)量與質(zhì)量控制(QA/QC)是*的,混料或使用不合格材料必給企業(yè)帶來損失。XRF手持式合金分析儀被廣泛用于從小型金屬材料加工廠到大型的飛機(jī)的各種制造業(yè)。已成為質(zhì)量體系中材料確認(rèn)、半成品檢驗(yàn)、成品復(fù)檢的儀器。XRF手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù),可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素,同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素,而通過測量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。如此一來,XRF度普術(shù)...

  • 光學(xué)膜厚測量儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù)
    2021-11-23 871
    光學(xué)膜厚測量儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù),X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子,出現(xiàn)殼層空穴,當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時(shí),就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號(hào)來得到待測元素的特征信息。使用光學(xué)膜厚測量儀的注意事項(xiàng)有以下三點(diǎn):一、注意保持試件表面的清潔和平整的光學(xué)膜厚測量儀是一個(gè)非常精密的儀器,如果我們要想我們的測量數(shù)據(jù)能夠保持的話,就要保持試件表面的清潔,及時(shí)的處理掉試件表面的附...

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