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四探針電阻率測量儀是一種用于測量材料表面電阻的儀器，在電子制造行業(yè)，特別是在PCB板、纖維布、皮革、塑料等材料的表面電阻測試中，它被廣泛使用。下面我們來了解一下四探針電阻率測量儀的使用方法。首先，我們需要準(zhǔn)備一臺四探針電阻率測量儀。然后，確定要測試的材料的表面。確保材料表面干凈，無灰塵、油脂或其他污染物。接下來，將材料放在測試儀的測試平臺上。確保材料與測試平臺之間沒有空氣間隙，以保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。然后，根據(jù)測試要求，選擇相應(yīng)的測試方法和測試參數(shù)。對于常見的測試方法，有四線...

實(shí)驗(yàn)室的工作追求的是性，可是環(huán)境振動源的影響很容易成為一個問題，一些實(shí)驗(yàn)可能由于輕微振動的影響而無法獲得的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。主動式減震系統(tǒng)就是為了解決這一問題產(chǎn)生的，它采用主動或被動的隔振措施隔離振動，提供水平、穩(wěn)定的臺面。實(shí)驗(yàn)或測量不受振動因素。為了達(dá)到理想的效果，減震平臺必須滿足幾個條件。首先，它必須有一個剛性臺面，能夠穩(wěn)定地固定實(shí)驗(yàn)儀器。其次，它沒有固有共振，而且能夠有效地抑制由實(shí)驗(yàn)中電機(jī)或移動部分產(chǎn)生的任何振動，并能夠隔離環(huán)境振動對實(shí)驗(yàn)裝置的影響。下面我們來說說選購主動式減震...

KLA光學(xué)輪廓儀在鈣鈦礦電池到半導(dǎo)體制造的超薄膜厚度測量中，憑借其高精度、非接觸式測量和多功能性，成為關(guān)鍵工具，具體應(yīng)用如下：一、鈣鈦礦太陽能電池中的超薄膜厚度測量TCO層測量：重要性：TCO層是鈣鈦礦太陽能電池的重要組成部分，必須在導(dǎo)電性能良好的情況下具有很高的透光率、低電阻和高熱穩(wěn)定性。測量實(shí)例：使用KLA光學(xué)輪廓儀，可以精確測量玻璃上IZO薄膜的厚度，如6.8nm和37.1nm的樣品。ETL層測量：重要性：ETL層在鈣鈦礦太陽能電池中具有收集電子、傳輸電子并阻隔空穴以降...

光學(xué)表面輪廓儀通常由一個激光測距儀和一個移動平臺組成。激光測距儀通過發(fā)射激光束并接收返回的激光信號，可以精確地測量物體的距離。移動平臺則用于控制激光測距儀在水平和垂直方向上的移動，從而實(shí)現(xiàn)對物體輪廓的全面掃描。在測量過程中，光學(xué)表面輪廓儀會將物體的輪廓點(diǎn)云數(shù)據(jù)采集下來，并通過特定的算法進(jìn)行處理和分析。這些算法可以將點(diǎn)云數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為三維模型，并進(jìn)一步提取出物體的尺寸、曲率、角度等信息。利用這些數(shù)據(jù)，工程師和設(shè)計(jì)師可以更好地了解物體的結(jié)構(gòu)和形狀，從而進(jìn)行下一步的設(shè)計(jì)和制造工作。光學(xué)...

XRF鍍層測厚儀是高精度分析設(shè)備，長期使用可能因環(huán)境、操作或部件老化出現(xiàn)故障。及時排查隱患可保障測量穩(wěn)定性，本文總結(jié)常見故障場景及應(yīng)對方案。??一、測量數(shù)據(jù)偏差異常????1.基材污染??若數(shù)據(jù)持續(xù)偏高，需檢查樣品表面是否殘留油污或氧化層。用酒精/丙酮擦拭后重新測量，若差異5%，需用砂紙輕拋基材表面消除干擾。??2.標(biāo)樣校準(zhǔn)失效??定期用標(biāo)準(zhǔn)膜校準(zhǔn)，若比對偏差±10%，需重新標(biāo)定。注意：校準(zhǔn)時選擇與樣品同基材的標(biāo)準(zhǔn)片，避免材質(zhì)差異導(dǎo)致誤差。??二、X射線發(fā)生器異...

光學(xué)膜厚測量儀是一種用于測量材料表面涂層厚度的精密儀器，廣泛應(yīng)用于金屬、塑料、陶瓷等材料的涂層厚度檢測。在日常使用過程中，膜厚儀可能會出現(xiàn)一些故障，需要進(jìn)行維修。光學(xué)膜厚測量儀常見故障的維修解決方法：1.膜厚儀無法開機(jī)先檢查電源線是否連接正常，電源插座是否有電。如果電源沒有問題，可能是儀器內(nèi)部的電源模塊出現(xiàn)故障，需要更換電源模塊。在更換電源模塊時，務(wù)必關(guān)閉電源，避免觸電。2.膜厚儀顯示異常如果膜厚儀在使用過程中出現(xiàn)顯示異常，如顯示閃爍、亂碼等現(xiàn)象，可能是顯示屏或顯示驅(qū)動電路出...