Filmetrics F54-XY-200 自動(dòng)光學(xué)膜厚測量儀

Filmetrics 自動(dòng)光學(xué)膜厚測量儀介紹：

Filmetrics F54-XY-200 自動(dòng)光學(xué)膜厚測量儀借助光譜反射系統(tǒng)，可以測量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測量點(diǎn)并提供厚度測量，達(dá)到每秒兩點(diǎn)。您可以從數(shù)十種預(yù)定義的極性，矩形或線性測量坐標(biāo)圖案中選擇，也可以創(chuàng)建自己編輯的測量點(diǎn)數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設(shè)置，任何具有基本計(jì)算機(jī)技能的人都可以使用。

Filmetrics 自動(dòng)光學(xué)膜厚測量儀特點(diǎn)優(yōu)勢：

• 自動(dòng)化薄膜厚度繪圖系統(tǒng)，快速定位、實(shí)時(shí)獲得結(jié)果；

• 可測樣品膜層：基本上所有光滑的。非金屬的薄膜都可以測量；

• 測繪結(jié)果可用2D或3D呈現(xiàn)，方便用戶從不同的角度檢視；

測量原理：

當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時(shí)將會(huì)有部分的光被反射，由于光的波動(dòng)性導(dǎo)致從多個(gè)界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進(jìn)而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時(shí)也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。

工業(yè)應(yīng)用：

參數(shù)：

測量圖：