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博曼BOWMAN高精度鍍層測量儀

簡要描述:美國博曼K系列XRF高精度涂層測量系統,具備12英寸×12英寸的測量區域,適用于多種樣品檢測。

  • 產品型號:K系列
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-11-13
  • 訪  問  量:327
產品詳情

美國博曼(Bowman)K系列 XRF 高精度涂層測量系統

博曼BOWMAN高精度鍍層測量儀

K 系列是客戶測量各種樣品的理想之選,在高度不超過9英寸(228 mm)的工件上具有優于同類產品的12英寸(304 mm)×12英寸(304mm)可測量區域。自動多準直器允許選擇光斑尺寸,以適應各種特征尺寸;可變焦攝像頭允許在 0.25 英寸到 3.5英寸的焦距范圍內進行測量。



配置

K 系列的標準配置包括一個4位(4、8、12和24mil)多重準直器;

可選尺寸為2x2 mil 至60mil。可變焦距便于在凹陷區域進行測量。

同服電機驅動的可編程平臺可通過可選的 xyz程序進行零件測量。

程序可使用模式匹配和自動對焦來確保精確測量。

與所有 Bowman XRF 系統一樣,K系列配備了標準的硅漂移探測器(SDD)和長壽命微聚焦×射線管。


博曼BOWMAN高精度鍍層測量儀





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