Bowman K系列 XRF 高精度鍍層測(cè)量系統(tǒng)

Bowman XRF高精度鍍層測(cè)量?jī)x介紹：

Bowman K系列 XRF 高精度鍍層測(cè)量系統(tǒng)在高度不超過9英寸(228mm)的工件上具有12英寸(304mm)x12英寸(304mm)可測(cè)量區(qū)域。自動(dòng)多準(zhǔn)直器允許選擇光斑尺寸，以適應(yīng)各種特征尺寸;可變焦攝像頭允許在0.25英寸到3.5英寸的焦距范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量。伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)的可編程平臺(tái)可實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確的可編程樣品定位。懸臂門設(shè)計(jì)方便操作人員進(jìn)行樣品放置

表格視圖功能可對(duì)整個(gè)可測(cè)量區(qū)域進(jìn)行成像，操作員只需單擊鼠標(biāo)即可導(dǎo)航到任何位置。內(nèi)置操縱桿可讓操作員從系統(tǒng)的控制面板上移動(dòng)XY平臺(tái)，而無需軟件干預(yù)。與所有其他Bowman XRF 系統(tǒng)一樣，K系列高精度鍍層測(cè)量系統(tǒng)符合ASTMB568、ISO3497和IPC-4552標(biāo)準(zhǔn)。

Bowman XRF高精度鍍層測(cè)量?jī)x主要功能：

• XYZ行程：X：12英寸（304mm）Y：12英寸（304mm）Z：9英寸（228mm）

• 可選配帶工作臺(tái)視圖的雙攝像頭

• 伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)的可編程工作臺(tái)，移動(dòng)精確、快速、平穩(wěn)

• 內(nèi)腔尺寸（WDH）：24英寸（609mm）、24英寸（609mm）、9英寸（228mm）

• 工作臺(tái)尺寸：12英寸（304.8mm）x12英寸（304.8mm）

• 高分辨率硅漂移探測(cè)器（SDD）

• 封閉式腔體設(shè)計(jì)

• 可同時(shí)測(cè)量多達(dá)5個(gè)涂層

• 可選內(nèi)置操縱桿

• 可選內(nèi)置電子停止裝置

• 懸臂門便于樣品存取

• 提供RoHS選件

Bowman K系列 XRF 高精度鍍層測(cè)量系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)：

XRF系統(tǒng)

高分辨率的固態(tài)探測(cè)器具有良好的元素分辨能力，無需二次濾波器。峰位長(zhǎng)時(shí)間保持穩(wěn)定，無需頻繁地進(jìn)行再校準(zhǔn)。X射線管和探測(cè)器的閉合耦合幾何布局提供了更多的光子數(shù)量。這使得Bowman系統(tǒng)能夠以相對(duì)短的測(cè)量時(shí)間實(shí)現(xiàn)低的檢測(cè)限和相對(duì)高的精度。

直觀的用戶界面

軟件將為儀器的性能提供有力的支持。Bowman鍍層測(cè)厚儀的分析數(shù)據(jù)擁有功能豐富的軟件作為支持，該軟件將擁有直觀的用戶界面，操作簡(jiǎn)單友好。測(cè)量數(shù)據(jù)可通過批次號(hào)進(jìn)行檢索，報(bào)告可一鍵生成。用戶可以無限制地創(chuàng)建新的應(yīng)用程序和報(bào)告格式，所有結(jié)果自動(dòng)保存到電腦數(shù)據(jù)庫(kù)，所有用戶級(jí)別都可以設(shè)置密碼保護(hù)。

廣泛的鍍層厚度測(cè)量范圍

BowmanXRF高精度鍍層測(cè)量系統(tǒng)可對(duì)13號(hào)鋁元素到92號(hào)鈾元素進(jìn)行高精度測(cè)量分析。

• 單層鍍層：Au，Ag，Ni，Cu，Sn，Zn等

• 合金鍍層：ZnNi合金，SnPb合金等鍍層厚度和成分比例同時(shí)分析

• 雙層鍍層：Au/Ni/Cu，Sn/Ni/Cu，Cr/Ni/Fe等

• 三層鍍層：Au/Pd/Ni/Cu等

• 至多可分析5層鍍層

• 可同時(shí)分析25種元素成分

• 可分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度

• 可分析ROHS有害元素

Bowman XRF 高精度鍍層測(cè)量服務(wù)支持：

Bowman為用戶提供XRF技術(shù)支持和服務(wù)。目前，除美國(guó)芝加哥總部外，Bowman已在全球四大洲二十余個(gè)國(guó)家建立了辦事處或機(jī)構(gòu)。Bowman始終致力于通過提供現(xiàn)場(chǎng)技術(shù)支持服務(wù)。Bowman在中國(guó)上海設(shè)有演示應(yīng)用中心，培訓(xùn)中心及備品配件庫(kù)，在深圳，杭州，西安設(shè)有辦事。有能力為客戶提供良好的的鍍層厚度檢測(cè)方案和快速良好的售后服務(wù)。

配置：

Bowman K系列XRF高精度鍍層測(cè)量系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)配置包括一個(gè)4位(4、8、12和24mil)多重準(zhǔn)直器;可選尺寸為2x2mil至60mil。可變焦距便于在凹陷區(qū)域進(jìn)行測(cè)量。同服電機(jī)驅(qū)動(dòng)的可編程平臺(tái)可通過可選的xyz程序進(jìn)行零件測(cè)量。程序可使用模式匹配和自動(dòng)對(duì)焦來確保測(cè)量的準(zhǔn)確度。

與所有Bowman XRF高精度鍍層測(cè)量系統(tǒng)一樣，K系列配備了標(biāo)準(zhǔn)的硅漂移探測(cè)器(SDD)和長(zhǎng)壽命微聚焦x射線管。

測(cè)量原理：

?BowmanXRF射線裝置利用X射線熒光原理測(cè)量鍍層和成分。當(dāng)高能X射線照射金屬薄膜表面時(shí)，入射光子擊出薄膜或基底材料原子的內(nèi)層電子形成空穴。外層電子躍遷填補(bǔ)空穴時(shí)釋放特征X射線熒光，其能量與元素的原子序數(shù)一一對(duì)應(yīng)，通過熒光的能量我們可以知道樣品中存在哪些元素，通過XRF的強(qiáng)度我們可以分析獲得樣品的厚度和每個(gè)元素的成分。

?行業(yè)應(yīng)用：

產(chǎn)品參數(shù)：

系統(tǒng)實(shí)機(jī)圖：