Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀
2025/6/27
[550]
Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀依靠光譜測量系統，可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺，可以快速的定位所需測試的點并測試厚度，測試非常快速，大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀配置精度高使用壽命長的移動平臺，以求能夠做成千上萬次測量。
Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀產品優勢：
自動化薄膜厚度繪圖系統，快速定位、實時獲得結果；
可測樣品膜層：基本上光滑的。非金屬的薄膜都可以測量；
測繪結果可用2D或3D呈現，方便用戶從不同的角度檢視；
- 上一篇：Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀
- 下一篇：沒有了
